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| rx solutions丨納米級工業ct作為成像技術領域具有發展前景的技術之一 |
| 發布者：無錫瑞埃德檢測科技有限公司 點擊：4785 發布時間：2024-12-09 |
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x射線納米斷層掃描是建立在現有微米級工業ct技術的基礎之上，將渲染三維圖像的分辨率提高到亞微米級別，而分辨率的提高能幫助客戶更清晰地看到零部件的內部缺陷。我們將其稱為“納米級工業ct”，“納米”一詞用來表示掃描獲得的截面上最小的像素尺寸在納米范圍內。  如大家所知，x射線斷層掃描技術是一種無損檢測技術，在許多行業中被用作檢查零件內部和外部結構。在過去的十年中，納米級別的工業ct得到了巨大的技術改進，現在能夠提供更好的成像效果。 要做到納米級別的掃描效果，設備通常要求非常小的樣件掃描尺寸，但是目前的技術對于樣件的制備基本沒有要求，這就意味著任何樣件只要尺寸控制到位，都可以通過掃描獲取整個的三維模型，這樣的話就大大節省了樣件制備的時間，幫助客戶優化了成本。 同時根據應用情況，納米級工業ct中的射線源焦點尺寸可小于400納米，結合功能強大的探測器（如ccd攝像頭），設備可實現高達400納米的真實分辨率，性能大大超過傳統的微米級工業ct系統。射線源焦點的尺寸大小是微米級工業ct和納米級工業ct之間的關鍵區別，焦點尺寸越小，整個系統的細節識別能力就越強。  如圖所示為納米級ct 在復合材料上應用案例 分辨率為0.7μm 與傳統的微米級工業ct一樣， 目前，無錫瑞埃德檢測有幸成為工業ct領跑企業――法國rx solutions 中國區市場拓展伙伴，將努力為大家提供最好的服務和產品，助力中國產業提升。 |
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